特集 ここまで来たde novo cancer
Ⅲ.De novo cancer の内視鏡診断─ 画像強調内視鏡(拡大)
二宮 悠樹
1
,
岡 志郎
2
,
稲垣 克哲
2
,
岡本 由貴
1
,
田中 秀典
2
,
松本 健太
2
,
山下 賢
1
,
田中 信治
1
,
茶山 一彰
2
1広島大学病院内視鏡診療科
2広島大学病院消化器・代謝内科
キーワード:
de novo cancer
,
表面陥凹型腫瘍
,
JNET 分類
,
pit pattern 診断
Keyword:
de novo cancer
,
表面陥凹型腫瘍
,
JNET 分類
,
pit pattern 診断
pp.23-30
発行日 2020年4月20日
Published Date 2020/4/20
DOI https://doi.org/10.19020/INT.0000000434
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De novo cancer の由来とされる表面陥凹型腫瘍の担癌率・粘膜下層高度浸潤率,およびNBI 拡大観察所見 (JNET 分類)とpit pattern 診断について当科のデータを示し考察を加えた.表面陥凹型腫瘍は表面隆起型腫瘍,隆起型腫瘍と比べて担癌率・粘膜下層浸潤率が有意に高く,径10 mm 以下の病変においても粘膜下層浸潤率が有意に高かった.拡大観察所見は,径10 mm 以下の病変を対象にした場合,JNET 分類ではType 2B,3 の割合が表面隆起型腫瘍,隆起型腫瘍と比較し有意に高かった.Pit pattern 診断ではⅢS 型,ⅤI 型,ⅤN 型pitpattern の割合が,表面隆起型腫瘍,隆起型腫瘍と比較し有意に高かった.
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