van Herick法の実際と意義

　van Herick法はvan Herick，Shaffer，Schwartzにより1969年に発表された狭隅角のスクリーニング法^1）であり，現在でも世界中で使用されている。van Herick法の利点はその簡便性である。特殊な検査機器を必要とせず，隅角鏡のように麻酔や接触することなしに細隙灯顕微鏡だけで短時間に判定を行うことが可能である。van Herick 2度以下の場合は狭隅角，3度以上の場合は広隅角であることが推測される。