三次元電子顕微鏡による内在性神経幹細胞由来新生ニューロンの移動・成熟機構の解明

Elucidation of migration and maturation mechanisms of new neurons derived from neural stem cells in the brain using three-dimensional electron microscopy

　従来の電子顕微鏡技術では高解像度の微細形態解析が可能であるが，特殊技術を用いないかぎり二次元画像に限定されていた．脳は多様な細胞種が複雑に入り組むため，二次元解析のみでは解析困難な構造が多い．近年，三次元電子顕微鏡技術の確立により，微細形態を立体的に解析できるようになった．本稿では，筆者らが明らかにした正常脳における新生ニューロンの移動・成熟過程，傷害脳での新生ニューロンの移動，さらに正期産および早産モデルにおける神経幹細胞ニッチの構造変化について，連続ブロック表面走査型電子顕微鏡（SBF-SEM）を用いた研究成果を概説する．