集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）を用いた解析：FIB-SEMによるポドサイトの3D超微形態解析

Three-dimensional ultrastructural analysis of podocytes using by FIB-SEM

はじめに

　糸球体疾患において，電子顕微鏡（電顕）による糸球体の解析は病態理解・診断のための重要なツールである。しかし，従来の透過型電顕（transmission electron microscope：TEM）では断面による観察しかできず，また観察視野も限られるため，複雑な立体構造をとる糸球体の理解には限界があった。ところが近年，導電性のある基盤上に回収した切片または電顕ブロックの表面を電界放出型走査電顕（field emission scanning electron microscopy：FE-SEM）で撮影する手法が登場し，TEMと同等の電顕像を広範囲に観察できるようになった^1）。さらにFE-SEMと連続断面作製技術を組み合わせ，超多数の連続断面を撮像し，取得した連続画像から任意の構造を3D再構築することで，3次元（three dimensional：3D）構造解析も可能なボリューム電顕技術も発達してきた。これらの技術により，断面の構造観察では十分に把握できない，微細な構造も詳細に観察することが可能となり，糸球体の正常構造・病理変化への理解がさらに深まることが期待される。ボリューム電顕法には種々の手法が存在するが^2,3），本稿においては，筆者らが糸球体研究に応用してきた集束イオンビーム（focused ion beam：FIB）-SEM法について紹介し，その利点・欠点についても議論していきたい。