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FOCUS いま注目のトピックを掘り下げる
FIB-SEMトモグラフィー法の基本から実際まで
太田 啓介
1
1久留米大学 医学部先端イメージング研究センター
キーワード：
走査型電子顕微鏡検査法
,
顕微鏡切片作成法
,
ミトコンドリア
,
超微構造
,
電子顕微鏡トモグラフィー
Keyword:
Microscopy, Electron, Scanning
,
Microtomy
,
Mitochondria
,
Electron Microscope Tomography
pp.603-609
発行日 2022年6月15日
Published Date 2022/6/15
DOI https://doi.org/10.32118/J01436.2022245566
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- Abstract 文献概要
- 1ページ目 Look Inside
＜Essence＞･組織･細胞･オルガネラの微細構造を三次元的に可視化する技術である。･原理は走査型電子顕微鏡で透過型電子顕微鏡のような像を観察することにある。･光学顕微鏡と電子顕微鏡を相関観察(CLEM)することができる。
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