走査型プローブ顕微鏡による生細胞の超解像イメージング

　原子間力顕微鏡（atomic force microscopy；AFM）をはじめとする走査型プローブ顕微鏡は，基板上に固定化したタンパク質やDNAを非標識でイメージング可能であり，測定の高速化により，ダイナミックな動きを捉えることもできる。しかし，生細胞の計測では，プローブと試料との物理的な接触が課題とされている。本稿では，細胞近傍の化学物質の濃度プロファイルを捉える走査型電気化学顕微鏡（SECM）と，光の回折限界を超えた解像度で生細胞の形状測定が可能な走査型イオンコンダクタンス顕微鏡（SICM）に関して，最近の動向を紹介する。