副鼻腔疾患のレ線断層撮影について

　戦後断層撮影装置の普及により頭蓋の断層撮影が行われ，側頭骨の断層撮影ではG．Bel Buono氏の頭蓋内計測に用いた報告があり，副鼻腔に就てはPsenner氏，M．Weinbrem氏，笹尾氏，野中氏，の報告があるが著者等も又副鼻腔の炎症，腫瘍，嚢腫等23例に試み診断上の意義を知る事が出来たので報告する。