最新基礎科学/知っておきたい
側弯検診システムの研究開発
須藤 英毅
1
,
小甲 晃史
2,3
,
安倍 雄一郎
3
,
岩崎 倫政
2
,
金井 理
4
Hideki SUDO
1
,
Terufumi KOKABU
2,3
,
Yuichiro ABE
3
,
Norimasa IWASAKI
2
,
Satoshi KANAI
4
1北海道大学大学院医学研究院脊椎・脊髄先端医学分野
2北海道大学大学院医学研究院整形外科学教室
3えにわ病院整形外科
4北海道大学大学院情報科学研究科
pp.306-310
発行日 2019年3月25日
Published Date 2019/3/25
DOI https://doi.org/10.11477/mf.1408201314
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脊柱側弯症は学童期の発症頻度が高く，進行すると手術治療を要するため，学校検診における早期発見と装具治療が必要とされている．一方で，目視検査での発見率の低さや学校医の負担が問題視されており，その解決のため，我々は，市販のデプスセンサで背表面を3次元計測し，理想的な左右対称形状からの偏差を評価することで，脊柱側弯症の徴候を短時間・高感度に検出できる診断支援システムを開発した．本システムが出力する評価指数とX線撮影で得られた側弯角が高い相関を持ち，診断に有用であるという原理検証結果も得られたため，現在は医療機器としての薬事承認申請へ向けた研究開発へと移行している．
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