超高圧電子顕微鏡による聴器の構造

Inner ear ultrastructure in a high voltage electron microscope

緒言

　内耳の微細形態に関しては，すでに光線顕微鏡（LM）の下に，Rezius^1），Held^2），Kolmer^3）らの優れた業績があり，彼らの観察力の卓越さがLMの分解能の極限に至る精緻な所見を遺産として残す結果となった。しかし，1950年代に入ると，透過型電子顕微鏡（TEM）が内耳研究にも応用され始め，C. A. Smith^4,5），H. Engstrom^6），J. wersall^7），H. spoendlin^8）らによってさらに詳細な観察結果が，とくに感覚細胞の神経終末を中心に続々と報告されるようになった。また，これにやや遅れるようにして1967年頃から走査電顕（SEM）も普及し始め，ラセン器の表面構造や蓋膜の聴毛圧痕像など，TEMと違った視点からの興味ある所見が加えられてきた。いっぽう，電子光学における最近の進歩は，TEMの分解能を1Aに次第に接近させるとともに，従来から期待されていた超高圧（1,000kV〜）電顕（HVEM）の開発を可能にし，金属材料の研究分野ではすでにHVEMの高分解能を応用して原子レベルでの研究が進められている。しかし，HVEMの医学生物学領城への応用は未開拓で，いまだその意義や応用方法の基本的事項も十分に理解されぬままに経過している現状と思われる。

　Applications of high voltage electron microscope (HVEM) were studied in biology specimens. The main advantage of HVEM is that sharp images of thicker specimens can be obtained because of the greater penetrating power of high energy electrons. The optimum thickness of the sections examined with an accelerating voltage of 1,000 kV was found to be between 500 nm to 800 nm. In this report, the thick sections of the sensory hairs and their rootlets were examined in JEM-1000 and three-dimensional reconstructions of efferent and afferent nerve endings on each hair cell were made at various sites in the cochlea.