Japanese
English
新しい視点をさぐる 新生児異常の診断技術
中枢神経系の異常
小宮 弘毅
1
Hirotake Komiya
1
1神奈川県立こども医療センター，新生児科
pp.725-728
発行日 1978年10月10日
Published Date 1978/10/10
DOI https://doi.org/10.11477/mf.1409205902
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- Abstract 文献概要
- 1ページ目 Look Inside
新生児の中枢神経系の異常を早期に発見することは，原因疾患の早期診断，早期治療のため，さらに後障害なき救命のためにきわめて重要なことである。
中枢神経系の異常を早期に発見する第一歩は詳細な観察であり，「新生児異常の診断技術」はこの詳細な観察につきるといえよう。もちろん，異常が考えられる場合には診断を進めるためにさらに種々の検査も必要になってくる。
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