頭部CT scanによる頭蓋内疾患の自動定量診断化の研究（第1報）—システム評価とヒストグラムによる検討

Automatic and Quantitative Diagnosis of Intracranial Lesions by Computerized Tomography: For extracting more Information from Absorption Coefficients:Part 1. System Analysis and Histogram Study

Ⅰ．はじめに

　頭部CT scanは，原理的にはX線横断撮影法であるが，断層内を仮想絵素（voxel）に割り，各絵素のX線吸収係数値を計算して，その値をgray scaleで表わし，CRT上に画像として表出する．得られる画像の診断情報の豊さにより頭蓋内疾患の診断には欠かせない検査法となった^1）．

　CT scanで得られる情報の基本的なものは，位置情報を持つ各voxelのX線吸収係数値である．位置情報を無視すれば，X線吸収精密測定装置と考えられる．

The purpose of the study is the establishment of the principle of automatic and quantitative diagnosis of the intracranial lesions using x-ray absorption coefficients in CT scan.

SIRETOM I, the first generation CT scanner made by Siemens Company, was used for this study. The absorption (attenuation) coefficients (%) of the scanner which was originally displayed in TV monitor, was converted into the Hounsfield Units (±1000 H. U.). The calculation was performed directly by CT system computor.