角膜形状解析

理論編

はじめに

　現在の角膜形状測定装置は，角膜前面のみの解析であるプラチド写真をもとに解析を行う装置と，光学断面を撮影して角膜の高さ情報を取得し，角膜前後面の解析が可能な装置に大別できる（表1）。前者にはオートケラトメーターやプラチド式角膜形状解析装置が属し，後者は原理にスリット光を使用したものはスリットスキャン式角膜形状解析装置，光干渉断層計（optical coherence tomography：OCT）を使用したものは光干渉式角膜形状解析装置と呼ぶ。角膜形状解析の目的は，角膜曲率半径の測定，角膜形状異常の判定，角膜不正乱視に対する評価の3つである。本稿では，それぞれの角膜形状解析装置における原理と適応を述べる。