Kensa to Gijyutsu Volume 26, Issue 7 （June 1998）

検査と技術 26巻7号（1998年6月発行）

Japanese English

増刊号病理組織・細胞診実践マニュアル

第IV章　電子顕微鏡検査

2．試料の処置　3）超薄切岩坂茂 ¹ ¹東京大学医学部病理学講座 pp.283-285

発行日 1998年6月15日 Published Date 1998/6/15

DOI https://doi.org/10.11477/mf.1543903525

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Abstract 文献概要
1ページ目 Look Inside

はじめに

　電子顕微鏡試料の超薄切片の厚さは，通常60〜90nm（干渉色でSilber〜Goldの範囲，図8参照）が良いとされているため，試料の大きさを小さくトリミングする傾向にあったが，近年ではダイヤモンドナイフの普及や，広範囲を見たいという病理診断としての要求もあって，2mm²以上の切削面でも十分超薄切が可能となってきている．