Japanese
English
研究と報告
精神分裂病者の事象関連電位(Late Positive Component)—抗精神病薬服用中の慢性例について
Event-related Potential (Late Positive Campo-nent) in Schizophrenics: Chronic cases during antipsychotic drug therapy
松林 実
1
,
小椋 力
1
,
岸本 朗
1
,
小村 文明
1
,
挾間 秀文
1
Minoru Matsubayashi
1
,
Chikara Ogura
1
,
Akira Kishimoto
1
,
Fumiaki Omura
1
,
Hidebumi Hazama
1
1鳥取大学医学部神経精神医学教室
1Department of Neuropsychiatry, Tottori University School of Medicine
キーワード:
Event-related potentials
,
P300
,
Schizophrenics
,
Short-term memory
Keyword:
Event-related potentials
,
P300
,
Schizophrenics
,
Short-term memory
pp.607-612
発行日 1984年6月15日
Published Date 1984/6/15
DOI https://doi.org/10.11477/mf.1405203771
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抄録 精神分裂病者のうち陰性症状のみを示す13人の慢性患者(平均年齢は32.6歳,全例抗精神病葉服用中)を対象に事象関連電位P300を記録し,同時にベントン視覚記銘検査を実施した。P300の潜時は分裂病者の場合367.9±27.6msec(平均値と標準偏差)で,健常対照者の321.3±10.5msecに比較して長く有意差が認められた(P<0.05)。N1-P3振幅は分裂病者の場合18.6±7.4μVで,対照者の29.0±10.4μVに比べ小さくここでも有意差が見出された(p<0.05)。短期記憶検査の正確数は,健常者に比較して少なく,正確数とP300,潜時の間には負の相関が認められた(P<0.001)。以上の結果と,同一の方法で実施した精神遅滞者に関する研究成績と比較しながら精神分裂病の病態生理,P300の有用性などについて考察した。
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