特集 これだけ知っていれば実践できる!最先端の植込み型心臓不整脈デバイス治療
治す12
植込みデバイスのデバイス・リードの不具合に対して,どのように検出し,治すか?
清水 登紀子
1
,
向井 靖
2
1福岡赤十字病院臨床工学課
2福岡赤十字病院循環器内科
キーワード:
閾値上昇
,
ノイズ
,
電磁干渉(EMI)
,
電池消耗
,
選択的交換指標(ERI)
Keyword:
閾値上昇
,
ノイズ
,
電磁干渉(EMI)
,
電池消耗
,
選択的交換指標(ERI)
pp.81-87
発行日 2024年1月9日
Published Date 2024/1/9
DOI https://doi.org/10.18885/HV.0000001462
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植込み型心臓不整脈デバイス(CIED)およびリードの不具合は早期に発見し,介入することが必要である。臨床で出会うことの多い,急激な閾値上昇,ノイズ混入,電池消耗に焦点を当て,その評価と対応方法を述べる。
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