特集 電解質と微量元素の臨床検査ガイド
総論
2 測定装置
9)分析電子顕微鏡
永谷 隆
1
Takashi NAGATANI
1
1日立計測エンジニアリング(株)テクノリサーチ
キーワード:
X線マイクロアナライザー
,
EPMA
,
分析TEM
,
波長分散型X線分光
,
WDX
,
エネルギー分散型X線分光
,
EDX
,
電子線エネルギー損失分光
,
EELS
Keyword:
X線マイクロアナライザー
,
EPMA
,
分析TEM
,
波長分散型X線分光
,
WDX
,
エネルギー分散型X線分光
,
EDX
,
電子線エネルギー損失分光
,
EELS
pp.1379-1382
発行日 1990年10月30日
Published Date 1990/10/30
DOI https://doi.org/10.11477/mf.1542900333
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はじめに
分析電子顕微鏡法(analytical electron microscopy)は,広義の立場で,各種電子顕微鏡と微小部化学分析法の組み合わせや,X線マイクロアナライザー(EPMA)を総称するものであるが,医生物学系では一般に,透過型電顕(TEM)を主体とした狭義の分析電顕を指している(図1).したがって,ここでも,TEMに微小部元素分析機能を付加した形の分析電顕について解説する.
分析電顕では,図2に示したように,電子ビームと試料の相互作用の結果生じるさまざまな信号を利用する.電子ビームは容易にそのエネルギーや電流量を制御でき,しかも電子光学系によって,μm(マイクロメーター)やnm(ナノメーター)にまで細く絞ることができるから,極微小部の分析が可能となる点に大きな特長がある.
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