Japanese
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質疑応答
雑件 x管理図の管理限界線について
飯塚 悦功
1
,
M生
1東京大学工学部反応化学科
pp.1001-1002
発行日 1984年8月15日
Published Date 1984/8/15
DOI https://doi.org/10.11477/mf.1542912286
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- Abstract 文献概要
〔問〕同じ3σ法でも，x±3SDをとる方法とx±（R×1.88）をとる方法との二つがありますが，実際の検査法に適用すると，この両者で大差をみせるものがあります．どちらが正しい管理限界線なのでしょうか．その理由をやさしく説明してください．
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